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CNS 13623:2017
- 英文版 單晶片之電阻率、霍爾係數及霍爾移動率之測定法（范德普法） Test Methods for Measuring Resistivity,Hall Coefficient and Determining Hall Mobility in Single-Crystal Semiconductors(Van Der Pauw Method) - English Version |
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CNS 13623:1995
- 英文版 單晶片之電阻率、霍爾係數及霍爾移動率之測定法（范德普法） Test Methods for Measuring Resistivity,Hall Coefficient and Determining Hall Mobility in Single-Crystal Semiconductors(Van Der Pauw Method) - English Version |
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